11. 測量項目：
w 單層膜厚測定.
w 2層膜厚測定.
w 3層膜厚測定.
w 合金膜厚成份比同時測定.
w 化學鎳膜厚測定.
w 壓鑄鋅底材上鍍銅、鎳二層膜厚同時測定.
w 元素的光譜峰值測定分析.
12. 測量材質：原子序22(Ti) ~ 82(Pb)為激發法測量。 原子序22以下為吸收法測量。
13. 測量範圍：原子序22 ~ 24 ， 約 0.2 ~ 20 um. 原子序25 ~ 40 ， 約 0.1 ~ 30 um. 原子序41 ~ 51 ， 約 0.2 ~ 70 um. 原子序52 ~ 82 ， 約 0.05~ 10 um.
14. 測量機能：
w 自動測定.
w 同一點重複測定機能
w 輸出形式設定.
w 自動測定條件測定.
w 能譜測定.
w 2點間等距離測定.
15. 測量條件或膜厚規格可以保存.
當要測量相同圖樣軌跡的製品時，若測量條件已儲存時，可以馬上進行測量。
最大檢量線檔案數：可登錄儲存100組檔案。
最大測量檔案數 ：可登錄儲存500組檔案(總計含手動300組,
自動100組,任意點自動測量100組等)。
25. 測定部： 外觀尺寸：602(W) ×463(D) ×732(H) ㎜.
重 量：標準型 約 55 Kg.
重 量：自動型 約 61 Kg.
26. 操作部：(※僅供參考)
w 電腦尺寸：180(W) ×420(D) ×360(H) ㎜.
重量：約 8.8 Kg.
w 顯示幕尺寸：360(W) ×420(D) ×370(H) ㎜.
重量：約16.5 Kg.
w 印表機尺寸：500(W) ×250(D) ×300(H) ㎜.
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产品详细资料 发布时间：2007-3-8 22:03:59 